無錫冠亞芯片測溫裝置

　　無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的芯片測溫裝置是應用于各種PCB板、電子芯片高低溫測試，確保在各種高低溫狀態(tài)下對芯片進行測試服務。

　　無錫冠亞芯片測溫裝置可以準確快速的實現(xiàn) PCB 板和電子芯片等電子元件的高低溫循環(huán)測試冷熱沖擊試驗、老化試驗、可靠性試驗等。溫度測試范圍：-85°C 至 +125°C，每秒可快速升溫/降溫固定的溫度，與傳統(tǒng)高低溫試驗箱對比，芯片測溫裝置變溫速率更快，溫控溫度：±1℃，可以實時監(jiān)測待測元件真實溫度，可隨時調整沖擊氣流溫度。

　　芯片測溫裝置針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊)，可單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，對測試機平臺上的IC進行溫度循環(huán) / 沖擊；傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試，對整塊集成電路板提供準確且快速的環(huán)境溫度。

　　芯片測溫裝置有著獨立的制冷循環(huán)風機組，可連續(xù)長時間工作，自動除霜，除霜過程不影響庫溫；模塊化設計，備用機替換容易（如果有10臺機子，只要一臺備用機組即可）；解決頻繁開關門，蒸發(fā)系統(tǒng)結霜問題；蒸發(fā)系統(tǒng)除霜過程不影響。構筑一套高低溫恒溫室變的簡單（根據(jù)提供的圖紙，像搭積木一般拼接好箱體，連接好電和水，設定好溫度即可工作）。

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