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微處理器芯片測試裝置chiller常見故障

 更新時間:2021-01-22 點擊量:1845

  在制冷行業中分為風冷式半導體芯片高低溫測試chiller和水冷式半導體芯片高低溫測試chiller兩種,根據壓縮機又分為螺桿式半導體芯片高低溫測試chiller、渦旋式半導體芯片高低溫測試chiller、離心式半導體芯片高低溫測試chiller

 微處理器芯片測試裝置chiller

  在溫度控制上分為低溫工業冷水機和常溫冷水機,常溫機組溫度一般控制在0-35度范圍內。低溫機組溫度控制一般在0度至-100度左右。

  半導體芯片高低溫測試chiller的開、停機順序要保證設備主機啟動后能正常運行,須保證:冷凝器散熱良好,否則會因冷凝溫度及對應的冷凝壓力過高,使半導體芯片高低溫測試chiller高壓保護器件動作而停車,甚至導致故障。

  蒸發器中冷水應循環流動,否則會因冷水溫度偏低,導致冷水溫度保護器件動作而停車,或因蒸發溫度及對應的蒸發壓力過低,是半導體芯片高低溫測試chiller的低壓保護器件動作而停車,甚至導致蒸發器中冷水結冰而損壞設備。因此,半導體芯片高低溫測試chiller的開機順序為:冷卻塔風機開、冷卻水泵開、冷水泵開、半導體芯片高低溫測試chiller開半導體芯片高低溫測試chiller的停機順序為:半導體芯片高低溫測試chiller停、冷卻塔風機停、冷卻水泵停、冷水泵停。

  停機時,半導體芯片高低溫測試chiller應在下班前半小時關停,冷水泵下班后再關停,有利于節省能源,同時避免故障停機,保護機組。運行制冷循環前,應確認制熱循環管道閥門已全部關閉。

以上就是關于半導體芯片高低溫測試chiller的維修保養和注意事項的相關講解,大家如果還有什么不明白的地方,可以關注冠亞制冷!(本文來源網絡,如有侵權,請聯系刪除。)

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