流體控溫裝置芯片測試電路設(shè)計

　　隨著國內(nèi)芯片行業(yè)的不斷發(fā)展，無錫冠亞流體控溫裝置不斷得到應(yīng)用，為此，針對流體控溫裝置芯片測試的電路設(shè)計，流體控溫裝置廠家需要了解清楚，才能更好的生產(chǎn)銷售流體控溫裝置。

　　AM-OLED顯示驅(qū)動芯片是AM-OLED平板顯示屏的關(guān)重件，具有重要經(jīng)濟價值，顯示驅(qū)動芯片內(nèi)部集成了行列驅(qū)動電路、圖像SRAM、電荷泵、LDO、伽馬校正和多種輸入輸出接口。內(nèi)置圖像SRAM可支持到WVGA分辨率，可顯示16.77兆色的顯示屏；片內(nèi)的低功耗電源管理技術(shù)增強了手持設(shè)備的電池續(xù)航能力。該芯片具有高集成度、低成本、低功耗的特點，可運用于中小尺寸AM-OLED顯示屏模塊，包括智能手機、數(shù)碼相機等電子產(chǎn)品。 因此，流體控溫裝置針對AM-OLED驅(qū)動控制芯片的測試需求，并結(jié)合該芯片的多功能模塊結(jié)構(gòu)特點，提出了一種AM-OLED驅(qū)動芯片的測試電路設(shè)計方案。

　　AM-OLED驅(qū)動控制芯片電源模塊由三個電荷泵、兩個LDO以及一個上電檢測電源組成，用來向伽馬校正、行驅(qū)動、列驅(qū)動以及SRAM模塊提供所需要的驅(qū)動電壓。內(nèi)置SRAM用來存儲需要顯示的圖像數(shù)據(jù)。OSC振蕩器主要是作為片內(nèi)時鐘源，可以通過倍頻、分頻、調(diào)整占空比等方式，結(jié)合各需求模塊的具體需求，產(chǎn)生高精度的時鐘頻率。數(shù)字控制模塊由Command decoder和TCON模塊組成，主要實現(xiàn)不同分辨率顯示，不同顯示模式顯示，低功耗模式控制，不同控制和數(shù)據(jù)接口兼容，行列驅(qū)動電路控制以及伽馬校正，接口譯碼功能。使各模塊能協(xié)調(diào)按序工作。

　　針對以上驅(qū)動芯片，需要對他的各項功能模塊和整體性能進行有指標的測試，常用測試項目有電源模塊測試，測定芯片內(nèi)基準、電荷泵、LDO等電源的電壓、電流指標要求。聯(lián)動測試，包括上電，啟動復(fù)位、省電、睡眠等各模式之間的切換。動態(tài)電流和平均電流測試，用于統(tǒng)計芯片的平均功耗和瞬時功耗。列驅(qū)動Source Driver輸出固定電平測試、建立時間、DNL、INL、DVO測試。通過SPI口對集成在芯片內(nèi)的SRAM進行測試，測試基本的存儲功能是否正確。伽馬電路測試，需要分步進行，先對其內(nèi)部各個模擬電路進行測試，確定參考電壓產(chǎn)生是否正確，然后再和列驅(qū)動連接進行聯(lián)合測試。比對顯示效果，可調(diào)整電壓誤差范圍。 數(shù)字控制模塊的測試，主要在接口之間的兼容，可在線調(diào)試，寄存器可配等特點來提高芯片的可測試性。

流體控溫裝置的芯片電路設(shè)計不同廠家有著不同的特點，流體控溫裝置專業(yè)廠家應(yīng)對此能夠集中分析測試，更好的進行芯片測試。

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